укр
eng
В 1973 р. закінчив факультет радіоелектроніки Київського Політехнічного Інституту (м. Київ) за спеціальністю “напівпровідники і діелектрики”.
Кандидат фізико-математичних наук, 30.06.1978 р. Дисертація захищена у спеціалізованій вченій раді при Інституті фізики напівровідників АН УРСР.
Доктор фізико-математичних наук, 04.06.1995 р. Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України.
Член-кореспондент НАН України, обраний 07.04.2000 р.
Професор за спеціальністю “Фізика твердого тіла”, присвоєно 2007 р.
Академік НАН України, обраний 03.02.2009 р.
Основні етапи науково-педагогічної діяльності:
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України:
1973 – 1977 – Аспірант ІФН НАН України
15.05.1979 – Молодший науковий співробітник ІФН НАН України
11.02.2003 – по т.ч. – Директор ІФН НАН України
Президія НАН України:
23.11.81 – 29.09.83 – Науковий співробітник- консультант Науково-організаційного відділу Президії АН УРСР
29.09.83 – 05.05.88 – Заступник начальника Науково-організаційного відділу, керівник сектора Президії АН УРСР
12.04.93 – 07.02.03 – Начальник Науково-організаційного відділу Президії НАН України
01.09.2011 - Головний вчений секретар Президії НАН України
Вища атестаційна комісія України:
01.08.2003 –01.08.2011 Голова ВАК України
Двічі Лауреат державних премій України в галузі науки і техніки (1994 р. та 2003 р.).
"Ренгено-оптико-акустичні явища в реальних кристалах при комбінованому впливі різних фізичних полів" (1994 р.)
"Монокристали сапфіру: розробка високорентабельних технологій, освоєння промислового виробництва конкурентноздатних на світовому ринку сапфірових елементів для оптики, електроніки та медицини" (2003 р.).
Заслужений діяч науки і техніки України (1998 р.)
Підготував трьох докторів наук: Гололобов Ю.І. (спеціальність 01.04.10 – фізика напівпровідників та діелектриків, 1999 р.), Кладько В.П. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 2000 р.), Оліх Я.М. (спеціальність 01.04.10 – фізика напівпровідників та діелектриків, 2011 р.) та двох кандидатів наук: Красуля С.М. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 1996 р.) та Мельник В.М. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 2000 р.).
Член Бюро Відділення фізики та астрономії України. Член міжвідомчої Ради з координації фундаментальних досліджень в Україні.
Список публікацій:
- Диагностика дефектов монокристаллов по деформационным зависимостям полной интегральной отражательной способности І. Лауэ дифракция в условиях аномального прохождения.
Шпак А.П., Молодкин В.Б., Дмитриев С.В., Первак Е.В., Рудницкая И.И., Динаев Ю.А., Низкова А.И., Кононенко О.С., Катасонов А.А., Заболотный И.Н., Мельник А.В., Василик Я.В., Пархоменко Т.И., Ниничук Л.И., Мачулин В.Ф., Прокопенко И.В. // Металлофизика и нов. технологии. 2007. Т.29, №8. С.1009-1019. - Акустойонні та акустоелектронні технології
В.Ф. Мачулін, Я.І. Лепіх, Я.М. Оліх, Б.М. Романюк // Вісник НАН України, 2007, №5, С.3-8.Download: [pdf] - Investigation of indium distribution in InGaAs/GaAs quantum dot stacks using high-resolution x-ray diffraction and Raman scattering
Yu. I. Mazur, Zh. M. Wang, and G. J. Salamo, V. V. Strelchuk, V. P. Kladko, V. F. Machulin, and M. Ya. Valakh, M. O. Manasreh // Journal of Applied Physics, 2006, V. 99, Issue 2, P.023517(1-10). DOI: 10.1063/1.2163009 (cited 13 times)Download: [pdf] - Термическая стабильность аморфных тонких Ta-Si-N пленок в системе металлизации Au/GaN
А.В. Кучук, В.П. Кладько, В.Ф. Мачулин, A. Piotrowska // Журнал технической физики, 2006, T.76, вып.10. C.132-135. (cited 3 times)Download: [pdf] - Thermal Stability of Thin Amorphous Ta–Si–N Films Used in Au/GaN Metallization
A.V. Kuchuk, V.P. Klad’ko, V.F. Machulin, and A. Piotrowska // Technical Physics, 2006, Vol. 51, No. 10, pp. 1383–1385. (Cited 3 times)Download: [pdf] - Dynamical theory of coplanar n-beam X-ray diffraction in multilayered structures
O.M. Yefanov, V.P. Kladko, V.F. Machulin // Ukr. J. Phys. 2006. V.51, N 9. C.895-901. (Cited 3 times)Download: [pdf] - Компланарна багатопроменева динамічна теорія дифракції Х-променів у шаруватих структурах
О.М. Єфанов, В.П. Кладько, В.Ф. Мачулін // Укр. фіз. журн. 2006. Т.51, №9. C.895-901. (Cited 3 times)Download: [pdf] - Technology and comparative investigation of ternary W-TiN and Ta(Ti)-SiN thin films diffusion barriers
Kuchuk A.V., Kladko V.P., Machulin V.F., Piotrowska A. // Proceedings of 18th International Symposium “Thin Films in Optics and Nano-Electronics” at Kharkov Nanotechnology Assembly, Kharkov - 2006, Vol. 2. P. 68-72.Download: [pdf] - (X-Ray Optic Effects in Multilayered Periodic Quantum Structures ) Рентгенооптичні ефекти в багатошарових періодичних квантових структурах
Кладько В.П., Мачулін В.Ф., Григор’єв Д.О., Прокопенко І.В. (V.P. Kladko, V.F. Маchulin, D.О. Grygoryev, І.V. Prokopenko 2006 (in Ukrainian)) // (монографія) Київ, 2006 р. Наукова думка, – 288 с. http://x-ray.net.ua/print/books/ (Cited 4 times) - Effect of Nitrogen in Ta—Si—N Thin Films on Properties and Diffusion Barrier Performances
A.V. Kuchuk, V.P. Kladko, V.F. Machulin, O.S. Lytvyn, А.А. Коrchovyi, A. Piotrowska, R.A. Minikayev, and R. Jakiela // Металлофизика и новейшие технологии. / Metallofiz. Noveishie Tekhnol. 2005, т. 27, № 5, сс. 625—634Download: [pdf]
