укр
eng
В 1973 р. закінчив факультет електроніки Київського Політехнічного Інституту (м. Київ) за спеціальністю “фізика”.
Кандидат фізико-математичних наук, 30.06.1978 р. Дисертація захищена у спеціалізованій вченій раді при Інституті фізики напівровідників АН УРСР.
Доктор фізико-математичних наук, 04.06.1995 р. Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України.
Член-кореспондент НАН України, обраний 07.04.2000 р.
Професор за спеціальністю “Фізика твердого тіла”, присвоєно 2007 р.
Академік НАН України, обраний 03.02.2009 р.
Основні етапи науково-педагогічної діяльності:
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України:
1973 – 1977 – Аспірант ІФН НАН України
15.05.1979 – Молодший науковий співробітник ІФН НАН України
11.02.2003 – по т.ч. – Директор ІФН НАН України
Президія НАН України:
23.11.81 – 29.09.83 – Науковий співробітник- консультант Науково-організаційного відділу Президії АН УРСР
29.09.83 – 05.05.88 – Заступник начальника Науково-організаційного відділу, керівник сектора Президії АН УРСР
12.04.93 – 07.02.03 – Начальник Науково-організаційного відділу Президії НАН України
Вища атестаційна комісія України:
З 01.08.2003 р. – Голова ВАК України
Двічі Лауреат державних премій України в галузі науки і техніки (1994 р. та 2003 р.).
"Ренгено-оптико-акустичні явища в реальних кристалах при комбінованому впливі різних фізичних полів" (1994 р.)
"Монокристали сапфіру: розробка високорентабельних технологій, освоєння промислового виробництва конкурентноздатних на світовому ринку сапфірових елементів для оптики, електроніки та медицини" (2003 р.)
Підготував двох докторів наук: Гололобов Ю.І. (спеціальність 01.04.10 – фізика напівпровідників та діелектриків, 1999 р.), Кладько В.П. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 2000 р.) та двох кандидатів наук: Красуля С.М. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 1996 р.) та Мельник В.М. (спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла, 2000 р.).
В.о. члена Президії НАН України, який відповідає за зв”язки НАН України з Держспоживстандартом України та ВАК України. Член Бюро Відділення фізики та астрономії України. Член міжвідомчої Ради з координації фундаментальних досліджень в Україні.
Список публікацій:
- Calculation of two-dimensional maps of diffuse scattering by a real crystal with microdefects and comparison of results obtained from three-crystal diffractometry
V.P. Klad‘ko, L.I. Datsenko, J. Bak-Misiuk, S.I. Olikhovskii, V.F. Machulin, I.V. Prokopenko, V.B. Molodkin, Z.V. Maksimenko // J. Phys. D: Appl. Phys. 34 (2001) A87–A92. (cited 4 times)Download: [pdf] - Effect of Structure Perfection of Polar Crystals on Friedel Intensity Ratio for X-Ray Reflections in the Region of Resonant Frequencies
Klad’ko V.P., Datsenko L.I., Manninen S., Galambosi Sz., Molodkin V.B., Machulin V.F. // Металлофизика и новейшие технологии. 2001, V.23, №12. С.1595-1605.Download: [pdf] - Complex diffractometrical investigstion of structural and compositional irregularities in GaAs:Si/GaAs films heavily doped with silicon
L.I. Datsenko, V.P. Kladko, P.M. Lytvyn, J. Domogala, V.F. Machulin, I.V. Prokopenko, V.B. Molodkin, Z.V. Maksimenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2001. V. 4, N. 3, P. 146-151Download: [pdf] - Дефектна структура бездислокаційного кремнію після імплантації водню та відпалу в умовах гідростатичного стискування.
Даценко Л.І., Кладько В.П., Мельник В.М., Мачулін В.Ф. // Український Фізичний Журнал, 2001. Т.46, №3. С.328-332.Download: [pdf] - Dynamical scattering of X-ray by real binary crystals and problem of point defects.
Datsenko L.I., Kladko V.P., Machulin V.F., Manninen S., Prokopenko I.V. // “Theory and computation for synchrotron radiation spectroscopy”, AIP Conf. Proc, 514 (1) 2000, P.153-161.Download: [pdf] - Топология маятниковых колебаний интенсивности в кристаллах с планарными дефектами в случае брэгг-дифракции.
Григорьев Д.О., Даценко Л.И., Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Мачулин В.Ф., Прокопенко И.В., Мельник В.М. // Металлофизика и новейшие технологии. 2000. Т.22, №2. С.58-65.Download: [pdf] - Динамические эффекты при дифракции рентгеновских лучей для квазизапрещенных отражений в бинарных кристаллах с сильноотличающимися атомными форм-факторами.
Кладько В.П., Даценко Л.И., Мачулин В.Ф., Мельник В.М. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, №10, С.3-8.Download: [pdf] - Energy-dispersive studies of the integrated reflectivity of Bragg diffracted continuous X-ray spectrum for high sensitive structure diagnostics of imperfect single crystal.
Grigoriev D.O., Manninen S., Datsenko L.I., Khrupa V.I., Molodkin V.B., Galamboshi S., Kladko V.P., Machulin V.F., // Metal. Phys. and Adv. Technology. 2000, V.22, №5. С.32-40.Download: [pdf] - Structure perfection variations of Si crystals grown by Czochralski or floating zone methods after implantation of oxygen or neon atoms followed by annealing
L.I. Datsenko, J. Auleytner, A. Misiuk, V.P. Kladko, V.F. Machulin, J. Bak-Misiuk, D. Zymierska, I.V. Antonova, V.M. Melnyk, V.P. Popov, T. Czosnyka and J. Choinski // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 1999. V. 2, N 1. P. 56-61.Download: [pdf] - Influence of absorption level on mechanisms of Bragg diffracted x-ray beam formation in real silicon crystals
V.P. Kladko, D.O. Grigoriev, L.I. Datsenko, V.F. Machulin, I.V. Prokopenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 1999. V. 2, N 1. P. 157-162.Download: [pdf]
