укр
eng
Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]
- Screen-printed p-CdTe layers for CdS/CdTe solar cells
V.P. Klad’ko, P.M. Lytvyn, N.M. Osipyonok, G.S. Pekar, I.V. Prokopenko, A.F. Singaevsky // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005. V. 8, N 2. P. 61-65.Download: [pdf] - Применение квазизапрещенных рефлексов для исследования многослойных периодических структур.
В.П. Кладько, В.Ф. Мачулин, И.В. Прокопенко, П.М. Литвин, П.П. Когутюк, А.А. Корчевой // Металлофизика и новейшие технологии, 2004, Т.26, №2. С.217-227.Download: [pdf] - Рентгенодифракционные исследования 2D-3D структурных переходов в наноразмерных многослойных периодических структурах
В.П. Кладько, В.Ф. Мачулин, И.В. Прокопенко, В.В. Стрельчук, А.И. Гудыменко, А.А. Корчевой // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології; Nanosystems, Nanomaterials, Nanotechnologies, 2003, т. 1, № 2, сс. 447-457Download: [pdf] - Effect of neutron irradiation and doping level on defect structure formation in gallium arsenide crystals
M.E.Seitmuratov, V.P. Kladko, O.I. Gudymenko, L.I. Datsenko, I.V. Prokopenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2002. V. 5, N 3. P. 258-260Download: [pdf] - Recrystallization processes in screen-printed CdS films
V.P. Klad'ko, O.S. Lytvyn, P.M. Lytvyn, N.M. Osipenok, G.S. Pekar, I.V. Prokopenko, A.F. Singaevsky, A.A. Korchevoy // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2002. V. 5, N 2. P. 170-175.Download: [pdf] - АСМ исследования нано-островков на поверхности полупроводниковых структур.
Литвин П.М., Прокопенко И.В., Кладько В.П., Федоренко Л.Д. // Сбор. докладов 5 семинара по сканирующей зондовой микроскопии. Минск, 2002, C.28-32.Download: [pdf] - Calculation of two-dimensional maps of diffuse scattering by a real crystal with microdefects and comparison of results obtained from three-crystal diffractometry
V.P. Klad‘ko, L.I. Datsenko, J. Bak-Misiuk, S.I. Olikhovskii, V.F. Machulin, I.V. Prokopenko, V.B. Molodkin, Z.V. Maksimenko // J. Phys. D: Appl. Phys. 34 (2001) A87–A92. (cited 4 times)Download: [pdf] - Complex diffractometrical investigstion of structural and compositional irregularities in GaAs:Si/GaAs films heavily doped with silicon
L.I. Datsenko, V.P. Kladko, P.M. Lytvyn, J. Domogala, V.F. Machulin, I.V. Prokopenko, V.B. Molodkin, Z.V. Maksimenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2001. V. 4, N. 3, P. 146-151Download: [pdf] - Structural and composition irregularities in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy
V.P. Kladko, L.I. Datsenko, Z.V. Maksimenko, O.S. Lytvyn, I.V. Prokopenko, Z. Zytkiewicz // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2000. V. 3, N. 3, P. 343-348Download: [pdf] - Топология маятниковых колебаний интенсивности в кристаллах с планарными дефектами в случае брэгг-дифракции.
Григорьев Д.О., Даценко Л.И., Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Мачулин В.Ф., Прокопенко И.В., Мельник В.М. // Металлофизика и новейшие технологии. 2000. Т.22, №2. С.58-65.Download: [pdf]
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]
