укр
eng
"Ренгено-оптико-акустичні явища в реальних кристалах при комбінованому впливі різних фізичних полів"
Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]
- Energy-dispersive studies of the integrated reflectivity of Bragg diffracted continuous X-ray spectrum for high sensitive structure diagnostics of imperfect single crystal.
Grigoriev D.O., Manninen S., Datsenko L.I., Khrupa V.I., Molodkin V.B., Galamboshi S., Kladko V.P., Machulin V.F., // Metal. Phys. and Adv. Technology. 2000, V.22, №5. С.32-40.Download: [pdf] - Влияние дополнительных ультразвуковых деформаций на характер амплитудных зависимостей отражающей способности акустически возбужденного кристалла в условиях рентгеноакустического резонанса
Григорьев Д.О., Даценко Л.И., Мачулин В.Ф., Хрупа В.И. // УФЖ, 1993. Т.38. №11, С.1799-1804. - Диагностика структурного совершенства монокристаллов методом рентгеноакустического резонанса
Мачулин В.Ф., Хрупа В.И. // Металлофизика, 1993. Т.15, №9, С.3-25. - Контроль толщины нарушенного слоя в структурно-неоднородных монокристаллах
Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Фомин А.В. // Заводская лаборатория, 1989, Т.55, №4. С.61-64. - Рентгеновские исследования структурной однородности кристаллов CdTe.
Герко И.А., Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Меринов В.Н. // Заводская лаборатория, 1988. Т.54, №8. С.64-67.Download: [pdf] - Интегральные характеристики структурного совершенства монокристаллов, содержащих ростовые "декорированные" дислокации.
Даценко Л.И., Хрупа В.И., Кладько В.П., Николаев В.В. // В кн.: ”Свойства и структура дислокаций в полупроводниках”. М.:1986. C.87-89. - Простой рентгенодифракционный метод контроля глубины нарушенного слоя в реальных кристаллах.
Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Когут И.В. // Ред. журн. ”Элект. техника”, 1986. 6 с. Деп. в ЦНИИ “Электроника” – №4225. - Способ контроля структурного совершенства монокристаллов
Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Хрупа В.И., Кисловский Е.Н., Кладько В.П,, Низкова А.И., Прокопенко И.В., Скороход М.Я.. // Авторське свідоцтво на винахід №1255906 - Контроль толщины нарушенных слоев, образующихся при резке и шлифовке несовершенных кристаллов.
Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Фомин А.В., Хрупа В.И. // Заводская лаборатория, 1985, Т.51, №7, С.30-31Download: [pdf] - Рассеяние рентгеновских лучей вблизи К-краев поглощения в тонких монокристаллах бинарных полупроводников.
Даценко Л.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Хрупа В.И. // Кристаллография, 1984, Т.29,№6, С.1066-1070.Download: [pdf]
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]
