|
|
| |
Статті
- On the Formation of Ni-based Ohmic Contacts to n-type 4H-SiC
A.V. Kuchuk, V.P. Kladko, A. Piotrowska, R. Ratajczak, R. Jakiela // Materials Science Forum (in press).
- Thermal degradation of Au/Ni2Si/n-SiC ohmic contacts under different conditions.
A.V. Kuchuk, M. Guziewicz, R. Ratajczak, M. Wzorek, V.P. Kladko, A. Piotrowska. // Materials Science and Engineering – B (submitted).
- Internal strains and crystal structure of the layers in AlGaN/GaN heterostructures grown on sapphire substrate.
Kladko V.P., Kolomys O.F., Slobodian M.V., Strelchuk V.V., Raycheva V.G. and Belyaev O.Ye., Bukalov S.S., Hardtdegen H., Sydoruk V.A., Klein N. and Vitusevich S.A.
// Journal of Applied Physics, 2009. (submitted).
- Self-organized three-dimensional spatial ordering of quantum dot arrays in InGaAs/GaAs
V.P. Kladko, М.V. Slobodian, P.M. Lytvyn, V.V. Strelchuk, Yu.I. Mazur, E. Marega, M. Hussein and G.J. Salamo // Phys. Stat. Solidi (a), 2009 (submitted)
- Изменения дефектной структуры в монокристаллах Cz-Si после облучения высокоэнергетическими электронами по данным высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии
В.В. Довганюк, В.Б. Молодкин, В.П. Кладько, Е.Н. Кисловский, С.И. Олиховский, Т.В. Литвинчук, И.М. Фодчук
// Металлофизика и новейшие технологии. 2009. (в друці)
- Sensitivity of triple-crystal X-ray diffractometers to microdefects in silicon
V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, E.G. Len, E.N. Kislovskii, V.P. Kladko, O.V. Reshetnyk, T.P. Vladimirova, B.V. Sheludchenko // Physica Status Solidi (а), 2009. V.206, (submitted).
- Свойства контактов GaN(SiC)-(Ti,Zr)Bx, подвергнутых быстрым термоотжигам
А.Е. Беляев, Н.С. Болтовец, В.Н. Иванов, Р.В. Конакова, В.П. Кладько, Я.Я. Кудрик, А.А. Лебедев, В.В. Миленин, В.Н. Шеремет
// ФТП. 2009. (в печати)
|
|
 |
|
укр
eng
