Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Гудименко Олександр Йосипович

Гудименко Олександр Йосипович - кандидат фізико-математичних наук, науковий співробітник

Кандидатська дисертація "Рентгенівська дифрактометрія приповерхневих шарів та гетероструктур на основі Si(Ge) та In(Ga)As" захищена в Спецраді ІФН 18.01.2012 р.





Список публікацій:
[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]

  1. Эффекты латерального упорядочения самоорганизованных SiGe наноостровков, выращенных на напряженных Si1-xGex буферных слоях
    В.В. Стрельчук, A.С. Николенко, П.M. Литвин, В.П. Кладько, А.И. Гудыменко, М.Я. Валах, З.Ф. Красильник, Д.Н. Лобанов, А.В. Новиков // Физика и техника полупроводников, 2012. Т.46, в.5, С.665-672.

    Download: [pdf]

  2. Структурные и оптические свойства гетероструктур с прямозонными и непрямозонными Ga(Al)As/InAs квантовыми точками.
    В.В. Стрельчук, А.Ф. Коломыс, В.П. Кладько, А.И. Гудыменко // ФТП, 2012

  3. Методичні аспекти рентгенодифрактометричного контролю складу шарів багатокомпонентних сполук
    Гудименко О.Й., Кладько В.П., Слободян М.В., Круковський С.І. // Український фізичний журнал, 2012. T.57, (підготовка до друку)

  4. Вплив інтердифузії на особливості формування GeSi наноострівців в структурах Si-Ge-Si при низьких температурах епітаксії
    Юхимчук В.О., Кладько В.П., Валах M.Я., Гудименко О.Й. // УФЖ, 2012, T.57, (підготовка до друку)

  5. Особливості зародження та упорядкування GeSi наноострівців в багатошарових структурах, сформованих на Si та Si1-xGex буферних шарах
    В.O. Юхимчук, M.Я. Валах, В.П. Kладько, M.В. Слободян, O.Й. Гудименко, З.Ф. Красільнік, О.В. Новіков // Український Фізичний Журнал, 2011, T.56, №3, C.254-262.

    Download: [pdf]

  6. Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands
    Gudymenko O.Yo., Kladko V.P., Yefanov O.M., Slobodian M.V., Yu.S. Polischuk, Krasilnik Z.F., Lobanov D.N., Novikov А.V.  // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2011. V.14, No 4, P.389-392.

    Download: [pdf]

  7. Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layer
    Oberemok O., Litovchenko V., Gamov D., Popov V., Melnik V., Gudymenko O., Nikirin V., Khatsevich І. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2011. V.14, N3, P.269-273.

    Download: [pdf]

  8. Эффекты латерального упорядочения самоорганизованных SiGe наноостровков, выращенных на напряженных Si1-xGex буферных слоях
    Валах M.Я., Николенко A.С., Стрельчук В.В., Литвин П.M., Кладько В.П., Гудыменко А.И., Слободян Н.В., Красильник З.Ф., Новиков А.А., Лобанов Д.Н.  // Труды XV международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», Нижний Новгород, 2011, Т.2. С.430-431.

    Download: [pdf]

  9. Спосіб виготовлення термохромної плівки діоксиду ванадію методом магнетронного розпилення
    Романюк Б.М., Мельник В.П., Хацевич І.М., Голтвянський Ю.В., Нікірін В.А., Попов В.Г., Гудименко О.Й., Оберемок О.С. // Патент України на корисну модель №62706. Бюл. №17 12.09.2011.

  10. Structural changes in Cz-Si single-crystal irradiated by high-energy electron from high-resolution X-ray diffractometry
    І.М. Fodchuk, V.V. Dovganyuk, Т.V. Litvinchuk, V.P. Kladko, М.V. Slobodian, O.Yo. Gudymenko, Z. Swiatek // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2010. V. 13, N 2. P. 209-213.

    Download: [pdf]

[<< попередня] ----- 1 2 3 ----- [наступна >>]

 
© 2006-2012. Розробка сайту: Веб-студiя "DreamArts"