укр
eng
Гудименко Олександр Йосипович - кандидат фізико-математичних наук, науковий співробітник
Кандидатська дисертація "Рентгенівська дифрактометрія приповерхневих шарів та гетероструктур на основі Si(Ge) та In(Ga)As" захищена в Спецраді ІФН 18.01.2012 р.
Список публікацій:
- Особливості дефектоутворення в приповерхневих шарах монокристалів кремнію при акустостимульованій імплантації іонів бору та миш'яку
О.Й. Гудименко, В.П. Кладько, В.П. Мельник, Я.М. Оліх, В.Г. Попов, Б.М. Романюк, М.В. Слободян, П.П. Когутюк // Український фізичний журнал, 2008, т.53, №2. C.140-145.Download: [pdf] - Влияние анизотропии полей деформации в многослойных структурах на спектры отражения рентгеновских лучей
А.Н. Ефанов, В.П. Кладько, А.И. Гудыменко, В.В. Стрельчук, Ю. Мазур, Чж. Ванг, Г. Саламо // Металлофизика новейшие технологии. /Metall. phys. and Adv. Technol. 2006, т.28, №4, с.441—448Download: [pdf] - Fields of deformation anisotropy exploration in multilayered (In,Ga)As/GaAs structures by high-resolution X-ray scattering
O. Yefanov, V. Kladko, O. Gudymenko, V.Strelchuk, Yu.Mazur, Zh.Wang, G.Salamo // Phys. Stat. Sol. (a) 203, No. 1, 154–157 (2006) (cited 7 times)Download: [pdf] - Effect of growth temperature on the luminescent and structural properties of InGaAsSbN/GaAs quantum wells for 1.3 mkm telecom application
L. Borkovska, O. Yefanov, O. Gudymenko, S. Johnson, V. Kladko, N. Korsunska, T. Kryshtab, Yu. Sadofyev, Y.-H. Zhang // Thin Solid Films 515 (2006) 786 – 789. (Cited 3 times)Download: [pdf] - Study of strain relaxation in CdSe/ZnSe nanostructures
L. Borkovska, R. Beyer, O. Gudymenko, V. Kladko, N. Korsunska, T. Kryshtab, Yu. Sadofyev, Ye. Venger // Journal of Crystal Growth, 2005, 275, Issues 1-2. e2281-e2287. (cited 2 times)Download: [pdf] - Enhanced relaxation of SiGe layers by He implantation supported byin situ ultrasonic treatments
B. Romanjuk, V. Kladko, V. Melnik, V. Popov, V. Yukhymchuk, A. Gudymenko, Ya. Olikh, G. Weidner, D. Kruger // Materials Science in Semiconductor Processing V.8 (2005) 171–175. (cited 5 times)Download: [pdf] - Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
V.V. Strelchuk, V.P. Kladko, O.M. Yefanov, O.F. Kolomys, O.I. Gudymenko, M.Ya. Valakh, Yu.I. Mazur, Z.M. Wang, and G.J. Salamo // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005. V. 8, N 1. P. 36-45. (Cited 7 times)Download: [pdf] - Manifestation of spatial ordering of quantum dots in multilayered SiGe nanostructures in X-Ray diffraction patterns
V.P. Kladko, V.F. Machulin, O.M. Yefanov, V.A. Yukchimchuk, O.I. Gudymenko, P.P. Kogutyuk, A.V. Shalimov // Ukr. J. Phys. 2005. V. 50, N 9Download: [pdf] - Прояв просторового упорядкування квантових острівців у багатошарових наноструктурах SiGe у рентгенівській дифракції
В.П. Кладько, В.Ф. Мачулін, О.М. Єфанов, В.О. Юхимчук, О.Й. Гудименко, П.П. Когутюк, А.В. Шалімов // Український фізичний журнал 2005. Т. 50, № 9Download: [pdf] - Вплив інтердифузії на релаксацію механічних напружень та компонентний склад в самоорганізованих SiGe наноострівцях
Валах М.Я., Гудименко О.Й., Джаган В.М., Кладько В.П., Красильник З.Ф., Литвин П.М., Мачулін В.Ф., Новіков О.В., Юхимчук В.О. // Металлофизика и новейшие технологии. 2004, Т.26, №6. С.741-751.Download: [pdf]
