укр
eng
:: 1970 :: 1979 :: 1981 :: 1982 :: 1983 :: 1984 :: 1985 :: 1986 :: 1987 :: 1988 :: 1989 :: 1990 :: 1991 :: 1992 :: 1993 :: 1994 :: 1995 :: 1996 :: 1997 :: 1998 :: 1999 :: 2000 :: 2001 :: 2002 :: 2003 :: 2004 :: 2005 :: 2006 :: 2007 :: 2008 :: 2009 :: 2010 :: 2011 :: 2012 :: 2013 :: 2014 :: 2015 :: 2016 :: 2017 :: 2018 :: 2019 :: 2020 :: 2021 :: 2022 ::
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]
- Излучение, связанное с протяженными дефектами в эпитаксиальных слоях ZnTe/GaAs и многослойных структурах
Е.Ф. Венгер, Ю.Г. Садофьев, Г.Н. Семенова, Н.Е. Корсунская, В.П. Кладько, М.П. Семцив, Л.В. Борковская // Физика и техника полупроводников, 2000, T.34, вып. 1Download: [pdf] - Emission Associated with Extended Defects in Epitaxial ZnTe/GaAs Layers and Multilayer Structures
E.F. Venger, Yu.G. Sadof'ev, G.N. Semenova, N.E. Korsunskaya, V.P. Kladko, M.P. Semtsiv, and L.V. Borkovskaya // Semiconductors, 2000, Vol. 34, No.1, p.11–16.Download: [pdf] - Structural and composition irregularities in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy
V.P. Kladko, L.I. Datsenko, Z.V. Maksimenko, O.S. Lytvyn, I.V. Prokopenko, Z. Zytkiewicz // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2000. V.3, N.3, P.343-348Download: [pdf] - Dynamical scattering of X-ray by real binary crystals and problem of point defects.
Datsenko L.I., Kladko V.P., Machulin V.F., Manninen S., Prokopenko I.V. // “Theory and computation for synchrotron radiation spectroscopy”, AIP Conf. Proc, 514 (1) 2000, P.153-161.Download: [pdf] - Топология маятниковых колебаний интенсивности в кристаллах с планарными дефектами в случае брэгг-дифракции.
Григорьев Д.О., Даценко Л.И., Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Мачулин В.Ф., Прокопенко И.В., Мельник В.М. // Металлофизика и новейшие технологии. 2000. Т.22, №2. С.58-65.Download: [pdf] - Влияние кулоновских дефектов и нестехиометрии в GaAs на энергетическую зависимость характеристик динамической брэгг-дифракции рентгеновских лучей.
Кладько В.П., Олиховский С.И., Даценко Л.И. // Металлофизика и новейшие технологии, 2000, Т.22, №6. C.20-27.Download: [pdf] - Laue Diffraction of X-rays in GaAs at the Zero Value of the Real Part of the Structure Factor for Quasiforbidden Reflections
L.I. Datsenko, V.P. Kladko // Crystallogr. Rep. V.45, 705 (2000). Cited 1 timeDownload: [pdf] - Динамические эффекты при дифракции рентгеновских лучей для квазизапрещенных отражений в бинарных кристаллах с сильноотличающимися атомными форм-факторами.
Кладько В.П., Даценко Л.И., Мачулин В.Ф., Мельник В.М. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, №10, С.3-8.Download: [pdf] - Lateral and depth inhomogeneities in Zn-based heterostructures grown on GaAs by MBE.
E.F. Venger, Yu.G. Sadof'ev, G.N. Semenova, N.E. Korsunskaya, V.P. Kladko, L.V. Shechovtsov, M.P. Semtsiv, L.V. Borkovskaya and S.Yu. Sapko // Thin Solid Films. 2000, V.367, Issue 1. P.184-188.Download: [pdf] - Energy-dispersive studies of the integrated reflectivity of Bragg diffracted continuous X-ray spectrum for high sensitive structure diagnostics of imperfect single crystal.
Grigoriev D.O., Manninen S., Datsenko L.I., Khrupa V.I., Molodkin V.B., Galamboshi S., Kladko V.P., Machulin V.F. // Metal. Phys. and Adv. Technology. 2000, V.22, №5. С.32-40.Download: [pdf]
[<< попередня] ----- 1 2 ----- [наступна >>]
