Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Кладько Василь Петрович


Кладько Василь - доктор фізико-математичних наук, професор, Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки

Адреса:
Інститут Фізики Напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова, Національна Академія Наук України.
03028 Київ, пр. Науки 45, УКРАЇНА

Дата і місце народження: 12  січня 1957 р., с. Озеро, Володимирецький район, Рівненська область
Національність: Українець

Освіта:
1974 – 1979 – студент Чернівецького Державного Університету, фізичний факультет (з червоним дипломом)
1982 – 1985 – аспірант Інституту Напівпровідників АН УРСР

Наукові ступені та звання: 
1986 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді К.016.37.01 Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України (04.06.1986 р.). 
1995 – Старший науковий співробітник (01.04.07–фізика твердого тіла)
2000 – Доктор фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д 26.001.23 Київського Національного Університету імені Тараса Шевченка (22.05.2000 р.).
2007– Професор (зі спеціальності 01.04.07–фізика твердого тіла)

Кар’єра:
1979-1982 - Інженер кафедри напівпровідникової мікроелектроніки фізичного факультету Чернівецького державного університету
1982-1985 - Аспірант Інституту Напівпровідників
1985-1988 – Молодший науковий співробітник
1988-2000 – Старший науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників,
2000-2004 – Провідний науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників
2004 дотепер – завідувач відділу "Дифракційних досліджень структури напівпровідників" Інституту Фізики Напівпровідників НАН, Київ, Україна

Наукова спеціалізація:
(i) головний напрям: рентгенооптика і високороздільна Х-променева дифрактометрія, фізика твердого тіла і реальна структура кристалічних матеріалів
(іі) інші напрями: фізика напівпровідників,  дифракція в області аномальної дисперсії рентгенівських променів
(iii) поточний дослідницький інтерес: квазізаборонені відбиття і стехіометрія, багатошарові структури з квантовими ямами і точками, фізика і реальна структура ІІІ-нітридних сполук, високороздільна Х-променева дифрактометрія деформаційних і релаксаційних процесів

Стажування за кордоном:
Університет м.Гельсінкі (Фінляндія), 2000 р. (2 місяці) 

Нагороди, Членство в Товариствах
- Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки 2007 р.
- Подяка Президії НАН України (2010 р.)
- Подяка від Київського міського голови (2005 р.)
- Винахідник СРСР (1986 р.)
- член Українського Фізичного Товариства
- член Міжнародного союзу кристалографів
- заступник головного редактора журналу "Semiconductor Physics, Quantum   Electronics&Optoelectronics"
- член редколегії наукового журналу "Складні системи і процеси"

Публікації:
-
Загальна кількість статей в реферованих журналах: 300
- Кількість статей в пошуковій системі Scopus: 100
- Кількість цитувань статей в пошуковій системі Scopus: 162 (h-index = 7)
- Кількість конференцій: 111
- Кількість монографій: 5 (див. в розділі публікації)
- Авторські свідоцтва: 5
- Патенти: 1

Педагогічна діяльність:

Підготував 6 кандидатів фіз.-мат. наук (Кучук А.В., Єфанов О.М., Корчовий А.А., Слободян М.В., Сафрюк Н.В., Гудименко О.Й. - спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла).
Керівник дисертаційної роботи: аспірантки Поліщук Ю.С.


Список публікацій:

  1. Influence of carbon layer on the properties of Ni-based ohmic contact to n-type 4H-SiC
    Z. Adamus, P. Borowicz, M. Wzorek, M. Borysiewicz, K. Korwin-Mikke, M. Latek, A. Barcz, K. Golaszewska, E. Kaminska, A. Piotrowska, A. Kuchuk, V. Kladko  // Journal of Applied Physics, 2012,

  2. Ni-based Ohmic Contacts to n-type 4H-SiC
    A. Piotrowska, E. Kaminska, M. Borysiewicz, K. Golaszewska, M. Wzorek, A. Kuchuk, V. Kladko, R. Ratajczak  // APL, 2012.

  3. Substrate effects on the strain relaxation in GaN/AlN short-period superlattices
    V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, O.M. Yefanov, P.M. Lytvyn, N.V. Safryuk, A.E. Belyaev, Yu.I. Mazur, E.A. DeCuir Jr, M.E. Ware, and G.J. Salamo  // Journal of Applied Physics 2012, 111, (submitted)

  4. The Formation Mechanism of Ni-based Ohmic Contacts to 4H-n-SiC
    Andrian V. Kuchuk, Vasyl P. Kladko, Krystyna Golaszewska, Marek Guziewicz, Marek Wzorek, Eliana Kaminska, and Anna Piotrowska  // Material Science Forum, 2012. V.713, P.001-004.

    Download: [pdf]

  5. Influence of template type and buffer strain on structural properties of GaN multilayer quantum wells grown by PAMBE. X-Ray study.
    V.P. Kladko, A.V. Kuchuk, N.V. Safryuk, V.F. Machulin, P.M. Lytvyn, V.G. Raicheva, A.E. Belyaev, Yu.I. Mazur, E.A. DeCuir Jr, M.E. Ware, and G.J. Salamo // Journal of Physics D: Applied Physics, 2011. V.44. No2, P.025403(8), (cited 3 times)

    Download: [pdf]

  6. Эволюция деформационного состояния и компонентного состава при изменении количества квантовых ям в InGaN/GaN многослойных структурах
    Кладько В.П., Кучук А.В., Сафрюк Н.В., Мачулин В.Ф., Беляев А.Е., Конакова Р.В., Явич Б.С., Бер Б.Я., Казанцев Д.Ю.  // Физика и техника полупроводников, 2011. Т.45, вып.6, C.770-777.

    Download: [pdf]

  7. Особливості зародження та упорядкування GeSi наноострівців в багатошарових структурах, сформованих на Si та Si1-xGex буферних шарах
    В.O. Юхимчук, M.Я. Валах, В.П. Kладько, M.В. Слободян, O.Й. Гудименко, З.Ф. Красільнік, О.В. Новіков // Український Фізичний Журнал, 2011, T.56, №3, C.254-262.

    Download: [pdf]

  8. Влияние режима перегрева p-n перехода на деградацию мощных импульсных кремниевых лавинно-пролетных диодов
    Беляев А.Е., Басанец В.В., Болтовец Н.С., Зоренко А.В., Капитанчук Л.М., Кладько В.П., Конакова Р.В., Колесник Н.В., Крицкая Т.В., Кудрик Я.Я., Кучук А.В., Миленин В.В., Атаубаева А.Б. // Физика и Техника Полупроводников, 2011. Т.45, вып.2, С.256-252. (cited 1 times)

    Download: [pdf]

  9. Mechanisms of oxygen precipitation in Cz-Si wafers subjected to rapid thermal anneals
    A Sarikov, I Lisovskyy, V Litovchenko, M Voitovich, S Zlobin, V Kladko, M Slobodian, and V Machulin  // Journal of the Electrochemical Society 2011, Vol.158 Issue 8. P.H772-H777. (cited 1 times)

    Download: [pdf]

  10. Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands
    Gudymenko O.Yo., Kladko V.P., Yefanov O.M., Slobodian M.V., Yu.S. Polischuk, Krasilnik Z.F., Lobanov D.N., Novikov А.V.  // Semiconductor Physics, Quantum Electronics, Optoelectronics, 2011. V.14, No 4, P.389-392.

    Download: [pdf]


 
© 2006-2012. Розробка сайту: Веб-студiя "DreamArts"