Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Кладько Василь Петрович


Кладько Василь - доктор фізико-математичних наук, професор, Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки

Адреса:
Інститут Фізики Напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова, Національна Академія Наук України.
03028 Київ, пр. Науки 45, УКРАЇНА

Дата і місце народження: 12  січня 1957 р., с. Озеро, Володимирецький район, Рівненська область
Національність: Українець

Освіта:
1974 – 1979 – студент Чернівецького Державного Університету, фізичний факультет
1982 – 1985 – аспірант Інституту Напівпровідників АН УРСР

Наукові ступені та звання: 
1986 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді К.016.37.01 Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України (04.06.1986 р.). 
1995 – Старший науковий співробітник (01.04.07–фізика твердого тіла)
2000 – Доктор фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д 26.001.23 Київського Національного Університету імені Тараса Шевченка (22.05.2000 р.).
2007– Професор (зі спеціальності 01.04.07–фізика твердого тіла)

Кар’єра:
1979-1982 - Інженер кафедри напівпровідникової мікроелектроніки фізичного факультету Чернівецького державного університету
1982-1985 - Аспірант Інституту Напівпровідників
1985-1988 – Молодший науковий співробітник
1988-2000 – Старший науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників,
2000-2004 – Провідний науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників
2004 дотепер – завідувач відділу "Дифракційних досліджень структури напівпровідників" Інституту Фізики Напівпровідників НАН, Київ, Україна

Наукова спеціалізація:
(i) головний напрям: фізика твердого тіла, резонансне розсіяння випромінювань, фізика і реальна структура кристалічних матеріалів
(іі) інші напрями: фізика напівпровідників,  розсіювання вторинних випромінювань
(iii) поточний дослідницький інтерес: квазізаборонені відбиття і стехіометрія, надгратки і квантові ями (точки), фізика і реальна структура кристалічних матеріалів, рентгенооптика і високороздільна Х-променева дифрактометрія

Стажування за кордоном:
Університет м.Гельсінкі (Фінляндія), 2000 р. (2 місяці)

Нагороди, Членство в Товариствах
- Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки 2007 р.
- Подяка від Київського міського голови (2005 р.)
- Винахідник СРСР (1986 р.)
- член Українського Фізичного Товариства
- член Міжнародного союзу кристалографів
- заступник головного редактора журналу "Semiconductor Physics, Quantum   Electronics&Optoelectronics"
- член редколегії наукового журналу "Складні системи і процеси"

Публікації:
-
Загальна кількість статей в реферованих журналах: 260
- Кількість статей в реферованих міжнародних журналах: 80 (h-index = 4)
- Кількість конференцій: 107
- Кількість монографій: 4 (див. в розділі публікації)
- Авторські свідоцтва: 5

Педагогічна діяльність:

Підготував 4 кандидатів фіз.-мат. наук (Кучук А.В., Єфанов О.М., Корчовий А.А., Слободян М.В. - спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла).
Керівник 2 дисертаційних робіт: аспірантка Сафрюк Н.В., м.н.с. Гудименко О.Й.


Список публікацій:

  1. Лауэ-дифракция рентгеновских лучей с различными длинами волн для квазизапрещенных отражений в бинарных монокристаллах.
    Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Даценко Л.И.  // Український Фізичний Журнал, 1988, – 19 с.– 6 іл. Бібл. 13 найм. Деп. в ВИНИТИ 1988. №2004-В88.

  2. Рентгеновские исследования структурной однородности кристаллов CdTe.
    Герко И.А., Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Меринов В.Н.  // Заводская лаборатория, 1988. Т.54, №8. С.64-67.

    Download: [pdf]

  3. Исследование шероховатости поверхностей и глубины нарушенного слоя в кристаллах КРТ после механической обработки свободным абразивом.
    Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Кравецкий М.Ю., Сальков Е.А., Фомин А.В., Хромяк К.Я.  // Оптико-механическая промышленность, 1988. №5. С.32-33.

    Download: [pdf]

  4. X-Ray diffraction studies of growth defect in III-V single crystals.
    Datsenko L.I., Kladko V.P., Kryshtab T.G. // In.: “Defects in Crystals”. Proc. of the 8th Inter. School on Defects in Crystals”. 1988. Р.59-67.

  5. Особенности динамического рассеяния рентгеновских лучей в реальных кристаллах при использовании квазизапрещенных отражений (случай Лауэ)
    Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Даценко Л.И. // В кн.: Мат. IV Всес. совещан. по когерентному взаимодействию излучений с веществом. М.:1988. C.44-45.

  6. Особенности рассеяния рентгеновских лучей в бинарных кристаллах при использовании квазизапрещенных отражений (случай Брэгга)
    Кладько В.П., Крыштаб Т.Г. // В кн.: Мат. IV Всес. совещан. по когерентному взаимодействию излучений с веществом. М.:1988. C.46-47.

  7. Способ контроля структурного совершенства монокристаллов.
    Кладько В.П., Крыштаб Т.Г., Фомин А.В., Горшков Ю.А.  // Авторське свідоцтво на винахід №1626860 (ДСК)

  8. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в кристаллах CdTe с макровыделениями фаз теллура и кадмия.
    Кладько В.П., Гуреев А.Н., Даценко Л.И., Курбанов К.Р., Фомин А.В.  // Кристаллография 1987, Т.32, №5, С.1202-1205.

    Download: [pdf]

  9. Особенности динамического рассеяния рентгеновских лучей с длинами волн вблизи К-краев поглощения компонентов бинарными кристаллами
    Кладько В.П., Крыштаб Т.Г. // В кн.: Матер. 2 Всес. совещ. по компл. программе “Рентген”, Черновцы 1987.

  10. Исследование типа доминирующих микродефектов в “бездислокационном” теллуриде кадмия.
    Гуреев А.Н., Кладько В.П. Даценко Л.И., Скороход М.Я.  // Український Фізичний Журнал, 1986. Т.31, №1 С.101-104

    Download: [pdf]


 
© 2006-2010. Розробка сайту: Веб-студiя "DreamArts"