укр
eng
Кладько Василь - доктор фізико-математичних наук, професор, Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки
Адреса:
Інститут Фізики Напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова, Національна Академія Наук України.
03028 Київ, пр. Науки 45, УКРАЇНА
Дата і місце народження: 12 січня 1957 р., с. Озеро, Володимирецький район, Рівненська область
Національність: Українець
Освіта:
1974 – 1979 – студент Чернівецького Державного Університету, фізичний факультет
1982 – 1985 – аспірант Інституту Напівпровідників АН УРСР
Наукові ступені та звання:
1986 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді К.016.37.01 Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України (04.06.1986 р.).
1995 – Старший науковий співробітник (01.04.07–фізика твердого тіла)
2000 – Доктор фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д 26.001.23 Київського Національного Університету імені Тараса Шевченка (22.05.2000 р.).
2007– Професор (зі спеціальності 01.04.07–фізика твердого тіла)
Кар’єра:
1979-1982 - Інженер кафедри напівпровідникової мікроелектроніки фізичного факультету Чернівецького державного університету
1982-1985 - Аспірант Інституту Напівпровідників
1985-1988 – Молодший науковий співробітник
1988-2000 – Старший науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників,
2000-2004 – Провідний науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників
2004 дотепер – завідувач відділу "Дифракційних досліджень структури напівпровідників" Інституту Фізики Напівпровідників НАН, Київ, Україна
Наукова спеціалізація:
(i) головний напрям: фізика твердого тіла, резонансне розсіяння випромінювань, фізика і реальна структура кристалічних матеріалів
(іі) інші напрями: фізика напівпровідників, розсіювання вторинних випромінювань
(iii) поточний дослідницький інтерес: квазізаборонені відбиття і стехіометрія, надгратки і квантові ями (точки), фізика і реальна структура кристалічних матеріалів, рентгенооптика і високороздільна Х-променева дифрактометрія
Університет м.Гельсінкі (Фінляндія), 2000 р. (2 місяці)
Нагороди, Членство в Товариствах
- Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки 2007 р.
- Подяка від Київського міського голови (2005 р.)
- Винахідник СРСР (1986 р.)
- член Українського Фізичного Товариства
- член Міжнародного союзу кристалографів
- заступник головного редактора журналу "Semiconductor Physics, Quantum Electronics&Optoelectronics"
- член редколегії наукового журналу "Складні системи і процеси"
Публікації:
- Загальна кількість статей в реферованих журналах: 260
- Кількість статей в реферованих міжнародних журналах: 80 (h-index = 4)
- Кількість конференцій: 107
- Кількість монографій: 4 (див. в розділі публікації)
- Авторські свідоцтва: 5
Педагогічна діяльність:
Підготував 4 кандидатів фіз.-мат. наук (Кучук А.В., Єфанов О.М., Корчовий А.А., Слободян М.В. - спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла).
Керівник 2 дисертаційних робіт: аспірантка Сафрюк Н.В., м.н.с. Гудименко О.Й.
Список публікацій:
- Интегральные характеристики структурного совершенства монокристаллов, содержащих ростовые "декорированные" дислокации.
Даценко Л.И., Хрупа В.И., Кладько В.П., Николаев В.В. // В кн.: ”Свойства и структура дислокаций в полупроводниках”. М.:1986. C.87-89. - Простой рентгенодифракционный метод контроля глубины нарушенного слоя в реальных кристаллах.
Хрупа В.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Когут И.В. // Ред. журн. ”Элект. техника”, 1986. 6 с. Деп. в ЦНИИ “Электроника” – №4225. - Способ контроля структурного совершенства монокристаллов
Даценко Л.И., Гуреев А.Н., Хрупа В.И., Кисловский Е.Н., Кладько В.П,, Низкова А.И., Прокопенко И.В., Скороход М.Я.. // Авторське свідоцтво на винахід №1255906 - Контроль толщины нарушенных слоев, образующихся при резке и шлифовке несовершенных кристаллов.
Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Фомин А.В., Хрупа В.И. // Заводская лаборатория, 1985, Т.51, №7, С.30-31Download: [pdf] - Рассеяние рентгеновских лучей вблизи К-краев поглощения в тонких монокристаллах бинарных полупроводников.
Даценко Л.И., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Хрупа В.И. // Кристаллография, 1984, Т.29,№6, С.1066-1070.Download: [pdf] - Изучение динамических искажений подрешеток In и Sb в антимониде индия при дифракции рентгеновских лучей вблизи K-края поглощения компонентов.
Молодкин В.Б., Кладько В.П., Гуреев А.Н., Гудзенко Г.И., Даценко Л.И. // Металлофизика, 1984, Т.6, №5, С.103-106.Download: [pdf] - Рентгенодифрактометрические исследования структурного совершенства сильнопоглощающих кристаллов.
Даценко Л.И., Крыштаб Т.Г., Кладько В.П., Кисловский Е.Н., Хрупа В.И. // Український Фізичний Журнал, 1984, Т.29, №5. С.743-747Download: [pdf] - Интегральные характеристики структурного совершенства, определяемые из экспериментов по лауэ-дифракции в тонком кристалле.
Даценко Л.И., Молодкин В.Б., Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Хрупа В.И. // В сб.: ”Дефекты структуры в полупроводниках” Новосибирск, 1984. C.102-105. - К вопросу о рентгенодифрактометрических исследованиях хаотически распределенных дислокаций в монокристаллах.
Молодкин В.Б., Даценко Л.И.,, Хрупа В.И., Осиновский М.Е., Кисловский Е.Н., Кладько В.П., Осадчая Н.В. // Металлофизика, 1983, Т.5, №6, С.7-15.Download: [pdf] - Рассеяние рентгеновских лучей вблизи К-края поглощения компонентов гамма-облученных монокристаллов CdSb.
Мельничук И.В., Куликовская С.М., Кладько В.П., Ащеулов А.А., Павлов Р.А., Грыцюк Б.Н., Раренко И.М. // Український Фізичний Журнал, 1982, Т.27, №3, С.368-371.Download: [pdf]
