Відділ дифракційних досліджень структури напівпровідників - IФН ISP
На першу сторінку Додати сторiнку до Вибраного Написати нам листа укр укр eng eng
Головна сторiнка
Iсторiя вiддiлу
Структура вiддiлу
Обладнання
Наукова дiяльнiсть
Публiкацiї
Програмнi розробки
Контакти
Аспiрантура
 
Кладько Василь Петрович


Кладько Василь - доктор фізико-математичних наук, професор, Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки

Адреса:
Інститут Фізики Напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова, Національна Академія Наук України.
03028 Київ, пр. Науки 45, УКРАЇНА

Дата і місце народження: 12  січня 1957 р., с. Озеро, Володимирецький район, Рівненська область
Національність: Українець

Освіта:
1974 – 1979 – студент Чернівецького Державного Університету, фізичний факультет
1982 – 1985 – аспірант Інституту Напівпровідників АН УРСР

Наукові ступені та звання: 
1986 – Кандидат фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді К.016.37.01 Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України (04.06.1986 р.). 
1995 – Старший науковий співробітник (01.04.07–фізика твердого тіла)
2000 – Доктор фізико-математичних наук (01.04.07–фізика твердого тіла). Дисертацію захистив у спеціалізованій раді Д 26.001.23 Київського Національного Університету імені Тараса Шевченка (22.05.2000 р.).
2007– Професор (зі спеціальності 01.04.07–фізика твердого тіла)

Кар’єра:
1979-1982 - Інженер кафедри напівпровідникової мікроелектроніки фізичного факультету Чернівецького державного університету
1982-1985 - Аспірант Інституту Напівпровідників
1985-1988 – Молодший науковий співробітник
1988-2000 – Старший науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників,
2000-2004 – Провідний науковий співробітник Інституту фізики напівпровідників
2004 дотепер – завідувач відділу "Дифракційних досліджень структури напівпровідників" Інституту Фізики Напівпровідників НАН, Київ, Україна

Наукова спеціалізація:
(i) головний напрям: фізика твердого тіла, резонансне розсіяння випромінювань, фізика і реальна структура кристалічних матеріалів
(іі) інші напрями: фізика напівпровідників,  розсіювання вторинних випромінювань
(iii) поточний дослідницький інтерес: квазізаборонені відбиття і стехіометрія, надгратки і квантові ями (точки), фізика і реальна структура кристалічних матеріалів, рентгенооптика і високороздільна Х-променева дифрактометрія

Стажування за кордоном:
Університет м.Гельсінкі (Фінляндія), 2000 р. (2 місяці)

Нагороди, Членство в Товариствах
- Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки 2007 р.
- Подяка від Київського міського голови (2005 р.)
- Винахідник СРСР (1986 р.)
- член Українського Фізичного Товариства
- член Міжнародного союзу кристалографів
- заступник головного редактора журналу "Semiconductor Physics, Quantum   Electronics&Optoelectronics"
- член редколегії наукового журналу "Складні системи і процеси"

Публікації:
-
Загальна кількість статей в реферованих журналах: 260
- Кількість статей в реферованих міжнародних журналах: 80 (h-index = 4)
- Кількість конференцій: 107
- Кількість монографій: 4 (див. в розділі публікації)
- Авторські свідоцтва: 5

Педагогічна діяльність:

Підготував 4 кандидатів фіз.-мат. наук (Кучук А.В., Єфанов О.М., Корчовий А.А., Слободян М.В. - спеціальність 01.04.07 – фізика твердого тіла).
Керівник 2 дисертаційних робіт: аспірантка Сафрюк Н.В., м.н.с. Гудименко О.Й.


Список публікацій:

  1. Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections
    V.P. Kladko, L.I. Datsenko, A.A. Korchovyi, V.F. Machulin, P.M. Lytvyn, A.V. Shalimov, A.V. Kuchuk, P.P. Kogutyuk // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2003. V. 6, N 3. P. 392-396

    Download: [pdf]

  2. Поведение сателлитных дифракционных максимумов короткопериодных сверхрешеток GaAs-AlAs с различной степенью кристаллического совершенства слоев.
    Кладько В.П., Даценко Л.И., Мачулин В.Ф., Молодкин В.Б.  // Металлофизика и новейшие технологии. 2003, Т.25, №5. С.597-615.

    Download: [pdf]

  3. Effect of neutron irradiation and doping level on defect structure formation in gallium arsenide crystals
    M.E.Seitmuratov, V.P. Kladko, O.I. Gudymenko, L.I. Datsenko, I.V. Prokopenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2002. V. 5, N 3. P. 258-260

    Download: [pdf]

  4. Recrystallization processes in screen-printed CdS films
    V.P. Klad'ko, O.S. Lytvyn, P.M. Lytvyn, N.M. Osipenok, G.S. Pekar, I.V. Prokopenko, A.F. Singaevsky, A.A. Korchevoy // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2002. V. 5, N 2. P. 170-175.

    Download: [pdf]

  5. Defects and radiation-enhanced defect reactions in ZnSe/(001)GaAs MBE layers
    G.N. Semenova, E.F. Venger, N.O. Korsunska, V.P. Klad'ko, L.V. Borkovska, M.P. Semtsiv, M.B. Sharibaev, V.I. Kushnirenko, Yu.G. Sadofyev // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2002. V. 5, N 2. P. 133-137.

    Download: [pdf]

  6. Concerning the subject of X-ray scattering by large dislocation loops
    V.P. Klad’ko, M.Ya. Skorokhod, L.I. Datsenko, O.I. Gudymenko // Український Фізичний Журнал, 2002, Т.47, №7. C.675-679.

    Download: [pdf]

  7. АСМ исследования нано-островков на поверхности полупроводниковых структур.
    Литвин П.М., Прокопенко И.В., Кладько В.П., Федоренко Л.Д.  // Сбор. докладов 5 семинара по сканирующей зондовой микроскопии. Минск, 2002, C.28-32.

    Download: [pdf]

  8. Рентгенодифракционная диагностика структурной и композиционной однородности бинарных кристаллов.
    Даценко Л.И., Кладько В.П., Маннинен С., Молодкин В.Б.  // Металлофизика и новейшие технологии. 2002, Т.24, №5. С.597-615.

    Download: [pdf]

  9. (Dynamical Scattering of X-Rays by Real Crystals in Region of Anomalous Dispersion) Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами в области аномальной дисперсии
    Л.И. Даценко, В.П. Кладько, В.Ф. Мачулин, В.Б. Молодкин. (Datsenko L.I., Kladko V.P., Machulin V.F., Molodkin V.B. (in Russian))  // (монографія) Київ, 2002 р. “Академперіодика” – 352 с. (cited 5 times)

  10. Calculation of two-dimensional maps of diffuse scattering by a real crystal with microdefects and comparison of results obtained from three-crystal diffractometry
    V.P. Klad‘ko, L.I. Datsenko, J. Bak-Misiuk, S.I. Olikhovskii, V.F. Machulin, I.V. Prokopenko, V.B. Molodkin, Z.V. Maksimenko // J. Phys. D: Appl. Phys. 34 (2001) A87–A92. (cited 4 times)

    Download: [pdf]


 
© 2006-2010. Розробка сайту: Веб-студiя "DreamArts"